Nouvelles méthodes pour l'attribution des sources de contaminants métalliques

Les méthodes conventionnelles employées dans les systèmes de surveillance pour évaluer les concentrations de métaux et métalloïdes, en particulier à l’état de traces, reposent généralement sur des instruments tels que la spectrométrie de fluorescence des rayons X (XRF) ou la spectrométrie de masse à plasma à couplage inductif (ICP-MS), après une étape préalable de digestion. Ces techniques fournissent des mesures très précises concernant la concentration des éléments présents dans les particules en suspension atmosphérique. Néanmoins, elles se limitent à une analyse moyenne de la composition globale des particules collectées, offrant peu d’informations sur la distribution élémentaire selon les tailles particulaires ou sur la nature chimique spécifique des particules individuelles. Récemment, des avancées instrumentales en ICP-MS ont permis d’atteindre des fréquences d’analyse extrêmement élevées (~1 million de points par minute), ouvrant ainsi la possibilité d’examiner chaque particule individuellement (SP-ICP-MS). La capacité à déterminer la composition élémentaire et isotopique de chaque particule (SP-TOF-ICPMS) constitue une méthodologie particulièrement puissante pour identifier l’origine des particules, notamment lors de l’étude d’échantillons atmosphériques comportant un mélange complexe issu de diverses sources. Cette nouvelle approche sera exploitée afin d’approfondir la compréhension des sources d’émissions particulaires associées à la Fonderie Horne.